L'attività principale della società NanoWorld AG è lo sviluppo, la produzione e la distribuzione di sonde per la microscopia a forza atomica (AFM), in particolare punte e sonde AFM utilizzate in vari settori come la nanoscienza, la scienza dei materiali, la fisica, la biologia e le scienze della vita.
Sonde AFM per modalità di contatto, tapping e non-contact, force modulation, bio-/life-science, scansione ad alta velocità, applicazioni elettriche e magnetiche, nonché sonde ad alta risoluzione e high-aspect-ratio.
Sonde AFM (POINTPROBE®)
Sonde AFM in silicio con altissima risoluzione, punta tipica inferiore a 8 nm, punta garantita inferiore a 12 nm e diverse forme della punta.
Sonde AFM (ARROW™)
Sonde AFM in silicio con alta visibilità della punta, geometria della punta a tre lati, scansioni simmetriche e una versione per scansione ad alta velocità fino a 2 MHz.
Cantilever ultra-corti
Cantilever ultra-corti per AFM di scansione ad alta velocità, con elevate frequenze di risonanza, diverse costanti di molla e una punta AFM HDC/DLC resistente all’usura.
Sonde AFM (Pyrex-Nitride)
Cantilèver e punte AFM in nitruro di silicio per modalità di contatto o dinamiche, con punte piramidali incise e versione tipless opzionale.
Sapere
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Non appena NanoWorld AG avrà rivendicato questo profilo, pubblicheremo qui insieme articoli editoriali e case study.